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遙遙領(lǐng)先希華石英晶體諧振器隱知識(shí)解析

2023-09-28 08:49:11 

遙遙領(lǐng)先希華石英晶體諧振器隱知識(shí)解析,晶振電路無(wú)信號(hào)輸出?

如果使用示波器或頻率計(jì)在晶體的兩個(gè)端子上沒(méi)有測(cè)量到信號(hào)輸出,請(qǐng)按照說(shuō)明確定因素和可能的解決方案。

步驟1-1。請(qǐng)檢查SMD晶振輸入端(Xin)和輸出端(Xout)的電壓,并檢查電壓是否符合IC規(guī)范。

步驟1-2。請(qǐng)卸載晶體,并使用專(zhuān)業(yè)測(cè)試機(jī)器測(cè)試其頻率和負(fù)載電容,看看它們是否振動(dòng)并符合您的規(guī)格。您也可以將其發(fā)送給供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟M(jìn)行測(cè)試。

步驟1-3。如果晶體不振動(dòng),其負(fù)載電容與您的規(guī)格不匹配,或者當(dāng)前頻率與您的目標(biāo)頻率之間存在巨大差距,請(qǐng)將晶體發(fā)送給您的供應(yīng)商進(jìn)行質(zhì)量分析。

步驟1-4。如果頻率和負(fù)載電容符合你的規(guī)格,但問(wèn)題也存在。需要執(zhí)行振蕩電路評(píng)估。您也可以將其發(fā)送給供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟M(jìn)行測(cè)試。

步驟1-5。下圖所示為一般振蕩電路,其中Cd和Cg為外部負(fù)載電容,Rf為反饋電阻,Rd為限流電阻。


圖1

負(fù)電阻(-R)是評(píng)價(jià)振蕩電路好壞的標(biāo)準(zhǔn),其值至少應(yīng)為晶振電阻的5倍,以維持穩(wěn)定的振蕩。因此,按照以下說(shuō)明測(cè)量負(fù)電阻非常重要:

圖2


(1)將電阻(Rx)與晶體串聯(lián)

(2)從振蕩的起點(diǎn)到終點(diǎn)調(diào)整Rx的值。

(3)測(cè)量振蕩期間Rx的值。

(4)你將能夠獲得負(fù)電阻的值,|-R| = Rx + Re,Re =有效晶體電阻。

步驟1-6。如果IC的負(fù)電阻太低,無(wú)法驅(qū)動(dòng)電路,我們提出三種解決方案來(lái)改善這種情況。

(1)降低限制電阻器(Rd)的值。但是,您還應(yīng)該確認(rèn)頻移和晶體驅(qū)動(dòng)電流是否同時(shí)符合規(guī)格。

(2)降低外部電容(Cg和Cd)的值,采用負(fù)載電容(CL)較低的其他晶體。

(3)采用電阻(Rr)較低的晶體。遙遙領(lǐng)先希華石英晶體諧振器隱知識(shí)解析.

Quartz Crystal
XTL92
1.0 x 0.8 x 0.3
37.4 - 80MHz
±20ppm
-30 ~ +85℃
Quartz Crystal
XTL91
1.2 x 1.0 x 0.3
24 - 80MHz
±15ppm
-30 ~ +85℃
Quartz Crystal
XTL90
1.6 x 1.2 x 0.35
24 - 80MHz
±15ppm
±30ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +105℃
Quartz Crystal
XTL90
1.6 x 1.2 x 0.35
24 - 60MHz
±15ppm
±30ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +125℃
Quartz Crystal
XTL50
2.0 x 1.6 x 0.55
16 - 80MHz
±15ppm
±30ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +105℃
Quartz Crystal
XTL50
2.0 x 1.6 x 0.55
16 - 60MHz
±15ppm
±50ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +125℃
Quartz Crystal
XTL58
2.5 x 2.0 × 0.6
12 - 66MHz
±15ppm
±30ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +105℃
XTL58
XTL58
2.5 x 2.0 × 0.6
12 - 54MHz
±15ppm
±50ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +125℃
Quartz Crystal
XTL57
3.2 x 2.5 × 0.8
8 - 54MHz
±15ppm
±30ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +105℃
Quartz Crystal
XTL57
3.2 x 2.5 × 0.8
8 - 54MHz
±15ppm
±50ppm
-30 ~ +85℃
-40 ~ +125℃
由于頻率輸出的偏差超過(guò)極限,系統(tǒng)無(wú)法運(yùn)行?

步驟2-1。如果頻率計(jì)測(cè)得的頻率超出限值,我們應(yīng)增加外部電容CL(或Cd & Cg的值),以將頻率降低至我們的目標(biāo)頻率,反之亦然。

第2-2步。如果頻率遠(yuǎn)高于目標(biāo)頻率,我們可以采用電容較低的晶體,反之亦然。

晶體參數(shù)的測(cè)試方法是什么?

將“pi電路”連接到具有測(cè)量等效常數(shù)功能的網(wǎng)絡(luò)分析儀,并進(jìn)行測(cè)量。JIS和IEC規(guī)定了“pi電路”的形狀和內(nèi)部電阻,如下所示。

圖3


如何描繪振蕩器電路的工作原理?

晶體控制振蕩器可被視為由一個(gè)放大器和一個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)組成,該反饋網(wǎng)絡(luò)選擇放大器輸出的一部分并將其返回到放大器輸入。這種電路的一般描述如下所示。

圖4

為了使振蕩器電路工作,必須滿(mǎn)足兩個(gè)條件:(A)環(huán)路功率增益必須等于1。(B)環(huán)路相移必須等于0、2π、4π等?;《?/span>

什么是串聯(lián)或并聯(lián)諧振頻率?

從下圖可以明顯看出,壓電石英晶體單元有兩個(gè)零相位頻率。第一個(gè),或兩者中較低的,是串聯(lián)諧振頻率,通??s寫(xiě)為Fs。零相位的兩個(gè)頻率中的第二個(gè)或更高的頻率是平行或反諧振頻率,通??s寫(xiě)為Fa。在振蕩器電路中,串聯(lián)和并聯(lián)諧振頻率都表現(xiàn)為電阻性。在串聯(lián)諧振點(diǎn),電阻最小,電流最大。

圖5

在并聯(lián)點(diǎn),電阻最大,電流最小。因此,并聯(lián)諧振頻率Fa不得用作振蕩器電路的控制頻率。

通過(guò)在振蕩器電路的反饋回路中包含電抗元件(通常是電容器),可以使石英晶體單元在串聯(lián)和并聯(lián)諧振點(diǎn)之間的線(xiàn)上的任意點(diǎn)振蕩。fs和fa頻率由壓電陶瓷材料及其物理參數(shù)決定。等效電路常數(shù)可由以下公式確定:

圖6


晶體的CL值是多少?它對(duì)什么有影響?

所有石英晶體諧振器都有一個(gè)串聯(lián)諧振頻率(fs,最低阻抗的頻率)。在此頻率下,晶體在電路中表現(xiàn)為阻性。通過(guò)增加與晶體串聯(lián)的電抗(電容),可以將晶體從這個(gè)串聯(lián)頻率中“拉出來(lái)”。當(dāng)與外部負(fù)載電容(CL)一起工作時(shí),晶體在略高于其串聯(lián)諧振頻率的頻率范圍內(nèi)振蕩。這是并聯(lián)(負(fù)載諧振)頻率。

Mfr Part # Mfr Supplier Description Series Frequency Frequency Tolerance Load Capacitance
XTL721-Q23-048 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768 kHz ±20ppm 6pF
XTL721-S349-005 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768 kHz ±20ppm 7pF
XTL721-S999-301 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768 kHz ±20ppm 9pF
XTL721-S999-429 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768 kHz ±20ppm 6pF
XTL741-S999-319 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768 kHz ±20ppm 9pF
XTL741-U11-402 Siward Siward CRYSTAL 32.768K晶振 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768 kHz ±20ppm 7pF
XTL741-S999-298 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768 kHz ±20ppm 12.5pF
XTL741-S999-379 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768 kHz ±20ppm 7pF
XTL741-S999-327 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768 kHz ±20ppm 4pF
XTL721-S999-286 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768 kHz ±20ppm 12.5pF
XTL751-S999-544 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL75 32.768 kHz ±20ppm 12.5pF
XTL751-S999-548 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL75 32.768 kHz ±20ppm 9pF
XTL751-S999-420 Siward Siward CRYSTAL 32.768 KHZ 20PPM CRYSTAL XTL75 32.768 kHz ±20ppm 7pF
訂購(gòu)并聯(lián)晶振時(shí),務(wù)必指定標(biāo)稱(chēng)并聯(lián)諧振頻率和負(fù)載電容,單位為皮法(pF)。例如,可以訂購(gòu)CL的標(biāo)準(zhǔn)值(如15pF );然后計(jì)算電容值以匹配晶體C1。

負(fù)載頻率取決于CL值,其公式如下所示。

圖7

如果輸出晶振頻率高于目標(biāo)頻率,則應(yīng)增加外部電容CL(或Cd & Cg的值),以將頻率降至目標(biāo)頻率。另一種方法是,如果頻率高于中心頻率,則采用電容較低的晶體。

晶體的頻率牽引能力不夠或牽引范圍不對(duì)稱(chēng)。

(1)如下圖所示,電路的負(fù)載電容與牽拉性成反比。結(jié)果表明,負(fù)載電容越小,頻率牽引范圍越大,反之亦然。

(2)另一方面,無(wú)源晶體特性也影響頻率牽引范圍。例如,有配平靈敏度(TS)、一氧化碳和C1。負(fù)載電容增量變化的小數(shù)頻率變化稱(chēng)為T(mén)S。當(dāng)C1變大或Co變小時(shí),頻率牽引能力變大。

(3)如果提拉范圍不對(duì)稱(chēng),即一邊提拉不夠,另一邊提拉太大,我們可以調(diào)整晶體的負(fù)載電容值。

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